Projekty laboratoryjne

KURS:    "Oprogramowanie systemów akwizycji i przetwarzania informacji"

Podstawowymi celami kursu jest poznanie współczesnych narzędzi projektowania oprogramowania użytkowego systemów pomiarowych, poznanie zasad rozwiązywania tego typu aplikacji oraz obowiązujących sposobów sterowania zdalnego urządzeniami pomiarowymi.

Zakres wiedzy technicznej niezbędnej do rozwiązania projektów obejmuje:

Każdy uczestnik kursu realizuje jeden projekt. Wszystkie projekty dotyczą aplikacji wykorzystujących aparaturę z interfejsem IEC625/IEEE488. Projekty są realizowane w środowisku projektowym LabView 8.0 z wykorzystaniem biblioteki I/O VISA.


Założenia ogólne dotyczące wszystkich projektów :

1.Środowisko projektowe : Windows XP & LabView 8.0 & biblioteka VISA.

2. Literatura : www.kmeif.pwr.wroc.pl/elektron/interfejsy/interface.html - odsyłacze: LabView, Laboratorium, Literatura itd.

3. Przykłady :  

4. Uwagi ogólne dotyczące wszystkich projektów:


Teksty zadań projektowych :


Zadanie 1 (stanowisko S-1) :     ( 6.6kB )
Zaprojektować aplikację realizującą pomiar charakterystyki częstotliwościowej czwórnika (transmitancja czwórnika w funkcji częstotliwości).

1. Założenia :

2. Układ pomiarowy i realizacja pomiarów:

3. Zestaw urządzeń :


Zadanie 2 (stanowisko S-2) :     ( 8.6kB )
Zaprojektować aplikację realizującą pomiar rodziny charakterystyk tranzystora Ic=f(Uce) przy określonych prądach bazy.

1. Założenia :

2. Układ pomiarowy i realizacja pomiarów:

3. Zestaw urządzeń :


Zadanie 3 (stanowisko S-2) :     ( 7.2kB )
Zaprojektować aplikację realizującą pomiar charakterystyki prądowo-napięciowej diody zenera (obszar zenera).

1. Założenia :

2. Układ pomiarowy i realizacja pomiarów:

3. Zestaw urządzeń :


Zadanie 4 (stanowisko S-2) :     ( 8.8kB )
Zaprojektować aplikację realizującą pomiar rodziny charakterystyk transoptora Ic=f(Uce) przy określonych prądach diody If.

1. Założenia :

2. Układ pomiarowy i realizacja pomiarów:

3. Zestaw urządzeń :


Zadanie 6 (stanowisko S-3) :     ( 8.6kB )
Zaprojektować aplikację realizującą pomiar rodziny charakterystyk tranzystora Ic=f(Uce) przy określonych prądach bazy.

1. Założenia :

2. Układ pomiarowy i realizacja pomiarów:

3. Zestaw urządzeń (stanowisko S-3):


Zadanie 7 (stanowisko S-3) :     ( 6.9kB )
Zaprojektować aplikację realizującą pomiar charakterystyki częstotliwościowej czwórnika (transmitancja czwórnika w funkcji częstotliwości).

1. Założenia :

2. Układ pomiarowy i realizacja pomiarów:

3. Zestaw urządzeń (stanowisko S-3) :


Zadanie 8 (stanowisko S-3) :     ( 7.3kB )
Zaprojektować aplikację realizującą pomiar charakterystyki amplitudowo-fazowej czwórnika (moduł i przesunięcie fazowe transmitancji) w funkcji częstotliwości.

1. Założenia :

2. Układ pomiarowy i realizacja pomiarów:

3. Zestaw urządzeń (stanowisko S-3) :


Zadanie 9 (stanowisko S-4) :     ( 8.7kB )
Zaprojektować aplikację realizującą pomiar charakterystyk częstotliwościowych czwórników (transmitancja czwórnika w funkcji częstotliwości).

1. Założenia :

2. Układ pomiarowy i realizacja pomiarów:

3. Zestaw urządzeń (stanowisko S-4) :


Zadanie 10 (stanowisko S-4) :     ( 21.7kB )
Zaprojektować aplikację realizującą pomiar modułu i fazy impedancji dwójnika metodą trzech woltomierzy ( |Z|=f(f) , kąt=f(f) ) w funkcji częstotliwości.

1. Założenia :

2. Metoda pomiarowa :

Model badanego dwójnika:

Wyniki pomiarów porównać z wartościami obliczonymi dla podanego modelu (dwie krzywe na wykresie prezentującym wyniki pomiaru ).

2. Układ pomiarowy i realizacja pomiarów:

3. Zestaw urządzeń (stanowisko S-4) :


Zadanie 11 (stanowisko S-3) :     ( 5.4kB )
Zaprojektować aplikację realizującą obrazowanie przebiegu czasowego sygnału za pomocą oscyloskopu HP6400.

1. Założenia :

2. Układ pomiarowy i realizacja pomiarów:

3. Zestaw urządzeń (stanowisko S-3) :